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大塚電子誠邀您共赴半導體設備與核心部件及材料展盛會——第十三屆半導體設備與核心部件及材料展（CSEAC 2025。2025年9月4日-6日，我們將在無錫太湖國際博覽中心2F A6-625展位恭候您的蒞臨！

偏光片、相位差膜、液晶盒、液晶涂布膜客戶，以及對偏光、相位差測量技術感興趣的各界賓客。

測量案例：電池行業(yè)（炭黑、碳納米管等）、半導體行業(yè)（晶圓、CMP漿料等）、生物·醫(yī)藥（凝膠粒子、納米金粒子等）、食品化妝品行業(yè)（氧化鈦等）。

應用領域：光學膜、接著劑、硬化涂層、半導體光刻膠、食品用薄膜、醫(yī)療用薄膜等。

● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成。 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測試膜厚、折射率n、消光系數(shù)k、絕對反射率 的新型高精度、高性價比的分光膜厚儀。

大塚電子MINUK可評價nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。且無需對焦，可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。

大塚電子（蘇州）有限公司產(chǎn)品講解：ELSZneo、nanoSAQLA,OPTM,SF等

VR pancake模組的偏光片貼合角、相位差測量、LCoS液晶盒盒厚檢測Micro OLED薄膜厚度、彩色濾光片特性評估、和上述關聯(lián)的AR/VR/MR/XR終端研發(fā)

使用ELSZ系列、nanoSAQLA等測量設備或?qū)Υ擞信d趣的人。

大塚電子的 Zeta 電位測量系統(tǒng)“ELSZ 系列”不僅可以測量溶液中膠體粒子的 Zeta 電位，也可以測量平板狀、薄膜狀樣品的 Zeta 電位。通過這樣的測量可以評價平板狀樣品的表面改質(zhì)狀態(tài)以及液體中粒子的吸著特性。本次研討會將介紹其應用。

無法測試出預想的結果，測試數(shù)據(jù)波動這么大？是設置環(huán)境的不當？運用方法不對？ 還是測試條件設置有誤？如果您也有同樣的困惑，請記得務必參加我司的網(wǎng)絡學習會。

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